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配置要求：
1.全自動倒置熒光顯微鏡1臺
2.電動DIC組件1套
3.共聚焦掃描單元 1套
4.激光器1套
5.檢測器3個
6.分析軟件1套（含拼圖、三維圖像獲取、時間序列成像、最大灰度值投影成像等功能）
7.電腦工作站 1套
8.防震臺 1張
主要技術參數：
技術參數
激光器部分
1.1激光器：采用單模保偏光纖，典型動態范圍 10000:1；直接調制 500:1
－ 固態激光器405nm：額定功率15mW，光纖外層光功率5mW；
－ 固態激光器488nm：額定功率25mW，光纖外層光功率10mW；
－ 固態激光器561nm：額定功率25mW，光纖外層光功率10mW；
－ 固態激光器640nm：額定功率15mW，光纖外層光功率5mW；
1.2軟件可以直接調節所有激光器開關以及強度，并具有實驗中未使用自動進入關閉狀態（Switch off）功能。
掃描模塊
2.1掃描器與顯微鏡一體化設計，一體化像差及色差校正。所有掃描器組件都直接耦合，無光纖連接。
2.2共聚焦針孔采用復消色差校正，適合短波長（如 405 nm）激光成像，自動對齊；調節范圍0.0到>10AU（Airy Unit）。
2.3檢測器數量：熒光檢測器3個，透射光檢測器1個。
2.4熒光檢測器類型： 熒光檢測器全部為光譜型檢測器，檢測范圍調節精度≤1nm。
★2.5主分光鏡：采用≤10°小角度入射技術，提供更高的激光壓制效率，背景激光壓制效率≥99.9999%（OD值≥6）。
★2.6光譜分光：利用可變二次分色鏡分光，從450 nm到650 nm分光精度≤1nm。
2.7 X、Y軸獨立的檢流計（Galvo）雙掃描鏡，采用超快線掃及幀飛回技術。
2.8掃描頭絕對線性掃描運動，保證激光在每個點駐留時間相同，保證定量實驗結果的準確性，回轉時間短，>85%的幀時間（frame time）有效地用于圖像采樣。
2.9掃描方式：xy，xyz，xyt，xyzt，xz，xt，xzt， xl，xyl，xyzl，xytl，xyztl，xzl，xtl，xztl，直線掃描，剪切掃描、旋轉掃描及變倍掃描。
★2.10在所有成像模式下，均可以進行360°任意旋轉掃描線的方向，同時可以變倍以及在XY方向移動掃描區域。旋轉、變倍、移動中心均可以實時（掃描過程中）進行。
★2.11掃描光學變倍：在所有成像模式下，最小變倍掃描系數為0.45x，變倍范圍都包括0.45 x– 40x，連續調節，調節精度0.1x。
★2.12最大掃描分辨率≥6144 x 6144。
2.13在常規線性掃描模式下，可同時滿足以下掃描速度指標：8幅/秒（512x512像素，16位）；64幅/秒（512x64像素，16位）；250幅/秒（512x16像素，16位）。
2.14一次實驗中單次掃描可以實現三個熒光檢測通道同時成像，如果一次實驗設置分次掃描，分次掃描次數不限。
★2.15光譜掃描（Lambda成像）：兩個檢測器平行掃描完成光譜成像，掃描過程無熒光信號損失；最小光譜檢測范圍（光譜分辨率）≤1nm；可根據結果做線性光譜拆分，去除自發熒光及熒光串擾。
★2.16中間像平面視野 ≥20mm。
2.17透射光檢測器：用于明場或DIC等非共聚焦圖像的檢測通道，自動切換透射光照明及透射光成像。
2.18具有實時電子組件：控制顯微鏡、激光器、掃描模塊和其他附件；通過實時電路進行數據采集和同步管理；過量采樣讀取邏輯電路，用以獲得最佳靈敏度；數據在實時電路與用戶計算機之間通過 LVDS 進行交換，在采集圖像的同時可進行數據在線分析。
顯微鏡主機
3.1研究型全自動正置顯微鏡，復消色差光路設計。
3.2顯微鏡內置電動調焦驅動馬達，最小步進10 nm。
3.3配置全電動掃描臺，行程130 mm x 85 mm，精度 0.1 μm，最大速度 25 mm/s，具有獨立的控制器及操控手柄。
3.4顯微鏡透射光源： LED光源。
3.5熒光附件：復消色差熒光光路，六位電動濾色鏡轉盤，電動光閘，含UV、B、G激發濾色鏡組件和長壽命熒光光源。
3.6全套微分干涉部件（DIC），有與不同數值孔徑的物鏡一一對應的棱鏡。
3.7多功能長工作距離電動聚光鏡，NA為0.55。
3.8目鏡一對：10X，視場數23。
3.9 6孔位電動物鏡轉盤，具有自動識別功能。
3.10物鏡：
10x干鏡，數值孔徑0.45；
20x干鏡，數值孔徑0.8；
40x干鏡，數值孔徑0.95 ；
63x油鏡，數值孔徑1.4；工作距離190 μm。
3.11通過TFT電子觸控屏系統控制顯微鏡并顯示工作狀態，TFT觸摸屏可以遠離顯微鏡機身實現遠程控制。
3.12配有專業共聚焦顯微鏡系統防震裝置。
軟件部分及圖像工作站
4.1智能化光路設置：通過選擇樣品的染料標記，提供3種光路配置模式，一鍵自動設置所有的光路。
4.2自動預掃描功能，可以自動、快速設定掃描參數，減少熒光淬滅。
4.3自動聚焦，可以實現自動尋找樣品焦平面的功能。
4.4多維獲取圖像獲?。喊ǘ嗤ǖ罒晒?、Z軸序列掃描、時間序列掃描、區域掃描、旋轉掃描、變倍掃描、光譜掃描、多點掃描和大視野拼圖掃描等。
4.5 Z軸深度補償功能，自動補償由于樣品深度增加造成的信號衰減。
4.6交互式漂白，在進行圖像采集的同時（包括連續掃描和時間序列實驗），通過鼠標點擊對指定任意區域進行漂白。適用于主動光活化實驗、光轉化實驗或者快速光漂白實驗等。
4.7 REUSE功能：它可以再次調用存儲在每張圖像里的所有的拍照參數來重現實驗。
4.8可以根據用戶的需要和應用由ZEN軟件存儲特定用戶的工作空間設置。
4.9可以通過ZEN軟件實驗管理器存儲和加載不同實驗的設置。
4.10 圖像分析功能：用各個參數做共定位和直方圖分析，任意線的序列測量，長度、角度、表面、強度等的測量。
4.11圖像操作：加減乘除、比例、位移、濾波（低通濾波、中值濾波、高通濾波）
4.12三維圖像渲染與重構：多種圖像渲染與顯示模式，包括但不限于最大、透明化、正交、投影等。
4.13自動圖像分析模塊：可以根據要求編輯測量程序，批量進行圖像分析。
4.14多位點及大視野拼圖成像：可對任意形狀的預設區域進行拼圖掃描以及根據位點列表進行多點成像，支持聚焦校正地圖、拼接以及陰影校正；支持自定義多孔板及各種樣品載具規格，多種模式設定獲取圖像的多個位點。
4.15高級三維圖像處理：3D和4D圖像的渲染及分析，有四種渲染方式（陰影、透明、表面、及最大強度投影）并可進行不同渲染方式的結合（如透明結合表面渲染）；可做Z軸顏色編碼視圖及浮雕立體視圖；可實現三維空間的距離和角度測量。
4.16硬件配置不低于以下要求：≥4核處理器，主頻≥3.8GHz；≥512G SSD高速硬盤以及≥2個4TB SATA 7200 rpm硬盤，≧64GB內存，DVD刻錄設備，≥32英寸液晶顯示器，分辨率≥2560×1600；Windows 10操作系統。
★4.17為確保售后服務及貨物質量，所投產品若為進口產品，需提供廠家或總代理針對本項目的授權書和售后服務承諾函原件（廠家或總代理直接投標，無需授權）。
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